Testing semiconductor memories : theory and practice /

Guardat en:

Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Goor, A. J. van de
Format:	Llibre
Idioma:	anglès
Published:	Chichester ; New York : J. Wiley & Sons, 1991.
Matèries:	Semiconductor storage devices > Testing. Semiconductor storage devices.

Annex

Detall dels fons de Annex
Signatura:	TK 7895 .M4 G655 1991
	Disponible Fer una reserva Request a scan of an article or book chapter